In der Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie stehen folgende Geräte für Servicearbeiten zur Verfügung:
Transmissionselektronenmikroskope:
JEM-Arm300F2 "GrandARM2" S/TEM - Fa. Jeol
Titan 80-300 Berlin Holography Special - Fa. FEI
Tecnai G2 20 S-Twin S/TEM - Fa. FEI
Gemini G-500 NanoVP - Fa. Zeiss
Gemini DSM 982 - Fa. Zeiss
SU8030 - Fa. Hitachi
S-4000 - Fa. Hitachi
S-2700 - Fa. Hitachi
S-520 - Fa. Hitachi
FIB:
Helios Nanolab 600 - Fa. FEI
Elektronenstrahlmikrosonde:
JXA 8530F - Fa. Jeol
AFM:
Park XE 100
Stereomikroskop:
SMZ-1270 - Fa. Nikon
diverse für Präparation
Lichtmikroskope:
Polyvar 2 - Fa. Reichert-Jung
Polyvar-Met - Fa. Reichert-Jung
Univar - Fa. Reichert-Jung
Cross-Section-Polisher:
IB-19520 CCP - Fa. Jeol
Critical-Point-Dryer:
CPD 300 - Fa. Leica
Beschichtungsgeräte:
C-Coater Cressington 328 - Fa. EO
C-Coater - Fa. Leica ACE 600
C-Coater - Fa. Edwards
Au-Coater SCD 030 - Fa. Balzers
Au/Cr-Coater Cressington 208 HR
Pt/Pd-Coater SCD 040 - Fa. Balzers
Plasmaveraschung:
Model 1020 - Fa. Fischione
100-E - Fa. Technics Plasma GmbH
Metallographie:
Qcut 150M - Trennmaschine - Fa. QATM
Isomet - Fa. Buehler
Schleif- und Poliergeräte Knuth-Rotor und Automet 250 - Fa. Buehler
Vibrationspoliergerät Vibromet-2 - Fa. Buehler
TEM-Präparation:
Drahtsäge - Fa. Well
Disc-Grinder und Dimple-Grinder - Fa. Gatan
Ionendünnungs-Gerät:
Model 1010 - Fa. Fischione
Model 691 Pips - Fa. Gatan
Ultramikrotom
Reichert-Jung