Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie (ZELMI)
Rasterkraftmikroskopie Park XE 100
Mit dem Rasterkraftmikroskop kann man Höhenunterschiede verifizieren.
Rasterkraftmikroskop Park XE 100
Kontakt:
| Raum | KWT-A 103 |
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Merkmale / Methodik
Parameter
Anwendungsbeispiele
