Completed Qualification Theses

Interference Gating - A Novel Method for Time-Resolved Off-Axis Electron Holography

STEBIC-Messungen in Abhängigkeit von Eigenschaften der Elektronensonde

Temporal Discretization Based Deviations in Time-Resolved Electron Holography

Elektronenholographische Untersuchung dreidimensionaler elektrostatischer Potentialverteilungen

Untersuchung und Anwendung der dynamischen Beugung an inhomogenen Verschiebungsfeldern in Elektronenstrahlrichtung in Halbleiterheterostrukturen

Rekonstruktion von sparse-sampling STEM-Daten

Korrelation zwischen photophysikalischen und strukturellen Eigenschaften InP-basierter Nanokristalle

Möglichkeiten und Grenzen der Ptychographie

Elektronenholographie an einer im TEM elektrisch betriebenen Halbleiternanostruktur

Eigenschaften holographischer Strahlengänge im Berlin Holography Special TEM

Entwicklung neuer Probengeometrien zur Optimierung elektronenholographischer Messungen elektrischer Potentiale

Grenzflächenstruktur von WOx/c-Si Kontakten

Entwicklung verschiedener Gating-Signale zur Optimierung zeitaufgelöster Elektronenholographie

TEM-Methoden zur 3D-Analyse von InGaAs/GaAs-Quantenpunkten

Growth and characterization of graphene on germanium

TEM-Querschnittspraeparation und (HR)TEM-Untersuchungen von InAs/GaAs-Submonolagen

Inhomogenitäten in Sammlungseigenschaften von Cu(In,Ga)Se_2-Solarzellen

Dunkelfeldelektronenholographie zur Verzerrungsanalyse verspannter nanophotonischer Bauelemente

TEM-Querschnittspraeparation und (HR)TEM-Untersuchungen von InAs/GaAs-Submonolagen

In-situ Messung des elektrostatischen Potentials von Kondensatoren mittels Elektronenholographie

TEM-Charakterisierung von AlInN/GaN-Heterostrukturen

Potentialkontrast im Rasterelektronenmikroskop am Beispiel von pn-Übergängen

TEM-Strukturuntersuchungen von langwellig emittierenden InAs/GaAs-Quantenpunkten

Einfluss von Verspannungen in Halbleiter-Quantenstrukturen auf (HR)TEM-Abbildungen

Optimierung der HRTEM-Abbildung von Kohlenstoff-Nanoröhren

Elektronenholographische Abbildung von elektrostatischen Potentialen in GaN-Nanodrähten mit axialem p-n Übergang

Potentiometrie an p-n-Übergängen in GaN mittels O-axis Elektronenholographie

Atomar auflösende off-axis-Elektronenholographie mit zwei Biprismen

Bestimmung von Restaberrationen und Kristallverkippung aus rekonstruierten TEM-Austrittswellen

TEM-Querschnittuntersuchungen an überwachsenen Seltenerd-Silizid-Nanodrähten

Berücksichtigung von Abschattungseffekten bei der 3D-Rekonstruktion im Rasterelektronenmikroskop

Mikroskopische Struktur und Potentialverteilung in AlxGa1-xN/AlGaN-Multiquantumwells

Dunkelfeld-Elektronenholographie an Halbleiter-Nanostrukturen

Herstellung und Charakterisierung von InGaAsPhotodetektoren mit metamorphen Bufferschichten zur Erweiterung des nutzbaren Wellenlängenbereichs

Vergleich der (HR)TEM-Abbildung von In(Ga)As-Submonolagen in [100] und [110] Durchstrahlungsrichtung

TEM-Verzerrungsfeldanalyse von Plane-View präparierten In(Ga)As Quantenpunkten

Elektronenmikroskopische Untersuchung von kristallinem Silizium auf nanostrukturiertem Glas

Messung und numerische Korrektur von Verzeichnungen in der Elektronenholographie

Holographische Fokusserien

(HR)TEM-Untersuchungen von semipolaren GaN auf m-plane Saphir

Vergleich verschiedener TEM-Methoden zur Kompositionsanalyse von In(Ga)As-Heterostrukturen

Methodischer Vergleich von Elektronen- und Röntgenholographie am Beispiel magnetischer Schichten

Elektronenholographische Potentialmessung von pn-Übergängen in GaAs

TEM-Charakterisierung von GaSb/GaAs-Nanostrukturen für Quantenpunkt Flash-Speicher

TEM-Strukturuntersuchungen von Submonolagen InAs/GaAs Quantenpunkten

Bestimmung von Restaberrationen in Elektronenhologrammen kristalliner Objekte

TEM-Untersuchungen der Spannungsfelder von In(Ga)As-Quantenpunkten

Bestimmung der 3D-Verteilung von In(Ga)As-Quantenpunkten in TEM-Querschnittsproben

TEM an GaAs-Nanostrukturen

TEM-Untersuchungen von Quantenpunkten mit unterschiedlichem V/III-Verhältnis beim Überwachsen

Verfahren zur Dickenbestimmung von TEM-Proben mittels Effekten der dynamischen Beugung

TEM-Untersuchungen von In-Plane präparierten InGaAs-Quantendots

HRTEM und Elektronenholographie an GaN-Laserstrukturen