© AG Lehmann
Lebenslauf
| Wissenschaftliche Karriere | |
| 2013-2014 | Otto Monstedt Gastprofessur (befristet für 6 Monate) an der Technischen Universität Dänemark in Lyngby |
| seit 2006 | Wissenschaftlicher Leiter der Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie (ZELMI) |
| seit 2006 | Professor für Experimentalphysik/Elektronen- und Ionen-Nanooptik, Technische Universität Berlin |
| 2004 | Habilitation in Experimentalphysik an der Technischen Universität Dresden, Mentor: Prof. Hannes Lichte |
| 2000-2006 | Technischer Leiter des Triebenberg-Labors für Elektronenmikroskopie der Technischen Universität Dresden |
| 2000-2006 | Wissenschaftlicher Mitarbeiter (unbefristet) am Institut für Strukturphysik an der Technischen Universität Dresden |
| 1997-1999 | Postdoc im Sonderforschungsbereich 422 an der Technischen Universität Dresden |
| 1997 | Promotion in Physik an der Eberhard Karls Universität Tübingen bei Prof. Hannes Lichte |
| 1994 | Dreimonatiger Gastaufenthalt am Oak Ridge National Lab, USA |
| 1992-1996 | Wissenschaftlicher Mitarbeiter am Institut für Angewandte Physik der Eberhard Karls Universität Tübingen |
| 1992 | Diplom-Abschluss des Physik-Studiums an der Eberhard Karls Universität Tübingen bei Prof. Hannes Lichte |
| 1986-1992 | Studium der Physik an der Eberhard Karls Universität Tübingen |
| Weitere Tätigkeiten | |
| 2009-2013, 2019-2020 und seit 2023 | Geschäftsführender Direktor des Instituts für Optik und Atomare Physik |
| 2019 | Konferenzleiter (zusammen mit Prof. Christoph Koch, HU Berlin) der Microscopy Conference MC2019 |
| 2016-2017 | Gewählter Präsident der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (DGE e.V.) |
| 2015-2022 | Vorsitzender der Physik-Kommission an der Technischen Universität Berlin |
| 2014-2015 | Gewählter Vizepräsident der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (DGE e.V.) |
Publikationen & Patente (Auswahl)
N. Owschimikow, B. Herzog, B. Lingnau, K. Lüdge, A. Lenz, H. Eisele, M. Dähne, T. Niermann, M. Lehmann, A. Schliwa, A. Strittmatter, U.W. Pohl
Submonolayer Quantum Dots
In: Kneissl M., Knorr A., Reitzenstein S., Hoffmann A. (eds) Semiconductor Nanophotonics. Springer Series in Solid-State Sciences, vol 194 (2020) pp 13-51
DOI: 10.1007/978-3-030-35656-9_2
U.W. Pohl, A. Strittmatter, A. Schliwa, M. Lehmann, T. Niermann, T. Heindel, S. Reitzenstein, M. Kantner, U. Bandelow, T. Koprucki, H.-J. Wünsche
Stressor-Induced Site Control of Quantum Dots for Single-Photon Sources
In: Kneissl M., Knorr A., Reitzenstein S., Hoffmann A. (eds) Semiconductor Nanophotonics. Springer Series in Solid-State Sciences, vol 194 (2020) pp 53-90
DOI: 10.1007/978-3-030-35656-9_3
Tolga Wagner, Michael Lehmann and Tore Niermann.
“ARRANGEMENT AND METHOD FOR DETECTING MEASURED VALUE ON BASIS OF ELECTRON HOLOGRAPHY.”,
Publication number: CN112534358A; EP3611574A1; EP3837587A1; WO2020035205A1 (2020).
Patent: worldwide.espacenet.com/publicationDetails/originalDocument?flavour=trueFull&locale=en_EP&FT=D&CC=EP&NR=3611574A1
L. Meißner, T. Niermann, D. Berger, M. Lehmann
Dynamical diffraction effects on the geometric phase of inhomogeneous strain fields
Ultramicroscopy 207 (2019) 112844
DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.112844
Tolga Wagner, Tore Niermann, Felix Urban, Michael Lehmann
Nanosecond electron holography by interference gating
Ultramicroscopy 206 (2019) 112824
DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.112824
Michael Lehmann, Tore Niermann and Tolga Wagner
“METHOD AND APPARATUS FOR CARRYING OUT A TIME-RESOLVED INTERFEROMETRIC MEASUREMENT.”
Publication number: EP3376522A1; TW201833521A; US2020103213A1; WO2018166786A1 (2018)
Patent (granted): patentimages.storage.googleapis.com/3f/99/6a/e600762da71959/US20200103213A1.pdf
T. Niermann, M. Lehmann, T. Wagner
Gated interference for time-resolved electron holography
Ultramicroscopy 182 (2017) 54–61
DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.06.017
Michael Lehmann and Hannes Lichte
Electron Holography
in: Transmission Electron Microscopy - Diffraction, Imaging, and Spectrometry
edited by C. Barry Carter and David B. Williams
Springer Verlag Berlin Heidelberg (2016), pages 215 - 232
DOI: 10.1007/978-3-319-26651-0
ISBN: 978-3-319-26649-7
Springer Verlag Berlin Heidelberg
Hannes Lichte and Michael Lehmann
Electron Waves, Interference & Coherence
in: Transmission Electron Microscopy - Diffraction, Imaging, and Spectrometry
edited by C. Barry Carter and David B. Williams
Springer Verlag Berlin Heidelberg (2016), pages 197 - 214
DOI: 10.1007/978-3-319-26651-0
ISBN: 978-3-319-26649-7
Springer Verlag Berlin Heidelberg
Tore Niermann and Michael Lehmann
Holographic focal series: differences between inline and off-axis electron holography at atomic resolution
J. Phys. D: Appl. Phys. 49 (2016) 194002
DOI: 10.1088/0022-3727/49/19/194002
Stephan Appelfeller, Martin Franz, Milan Kubicki, Paul Reiß, Tore Niermann, Markus Andreas Schubert, Michael Lehmann, and Mario Dähne
Capping of rare earth silicide nanowires on Si(001)
Applied Physics Letters 108 (2016) 013109 (4 pages)
DOI: 10.1063/1.4939693
F. Kießling, T. Niermann, M. Lehmann, J.-H. Schulze, A. Strittmatter, A. Schliwa, and U.W. Pohl
Strain field of a buried oxide aperture
Physical Review B 91 (2015) 075306
DOI: 10.1103/PhysRevB.91.075306
J. B. Park, T. Niermann, D. Berger, A. Knauer, I. Koslow, M. Weyers, M. Kneissl, and M. Lehmann
Impact of electron irradiation on electron holographic potentiometry
Applied Physics Letters 105 (2014) 094102
DOI: 10.1063/1.4894718
Florian Genz, Tore Niermann, Bart Buijsse, Bert Freitag, Michael Lehmann
Advanced double-biprism holography with atomic resolution
Ultramicroscopy 147 (2014) 33 - 43
DOI: 10.1016/j.ultramic.2014.06.002
T. Niermann, F. Kießling, M. Lehmann, J.-H. Schulze, T.D. Germann, K. Pötschke, A. Strittmatter, and U.W. Pohl
Atomic structure of closely stacked InAs submonolayer depositions in GaAs
Journal of Applied Physics 112 (2012) 083505
DOI: 10.1063/1.4758301
H. Lichte, M. Lehmann
Electron holography - basics and applications
Annu. Rev. Modern Physics 71 (2008) 016102
DOI: 10.1088/0034-4885/71/1/016102
M. Lehmann
Influence of the Elliptical Illumination on Acquisition and Correction of Coherent Aberrations in High-Resolution Electron Holography
Ultramicroscopy 100 (2004) 9 - 23
DOI: 10.1016/j.ultramic.2004.01.005
M. Lehmann, H. Lichte
Tutorial on Off-axis Electron Holography
Microscopy and Microanalysis 8 (2002) 447 - 466
DOI: 10.1017/S143192760202014
M. Lehmann, E. Völkl, F. Lenz
Reconstruction of electron off-axis holograms: a new and fast alternative method
Ultramicroscopy 54 (1994) 335 - 344
DOI: 10.1016/0304-3991(94)90133-3
