Experimentalphysik/Elektronen- und Ionen-Nanooptik

Leitung des Fachgebiets

Prof. Dr.

Michael Lehmann

Experimentalphysik/Elektronen- und Ionen-Nanooptik

michael.lehmann@tu-berlin.de

+49 30 314-22567

+49 30 314-27850

Einrichtung Institut für Optik und Atomare Physik
Sekretariat ER 1-1
Gebäude ER
Raum ER 292
Adresse Sekr. ER 1-1, Straße des 17. Juni 135
10623 Berlin

Lebenslauf

Wissenschaftliche Karriere 
2013-2014Otto Monstedt Gastprofessur (befristet für 6 Monate) an der Technischen Universität Dänemark in Lyngby
seit 2006Wissenschaftlicher Leiter der Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie (ZELMI)
seit 2006Professor für Experimentalphysik/Elektronen- und Ionen-Nanooptik, Technische Universität Berlin
2004Habilitation in Experimentalphysik an der Technischen Universität Dresden, Mentor: Prof. Hannes Lichte
2000-2006Technischer Leiter des Triebenberg-Labors für Elektronenmikroskopie der Technischen Universität Dresden
2000-2006Wissenschaftlicher Mitarbeiter (unbefristet) am Institut für Strukturphysik an der Technischen Universität Dresden
1997-1999Postdoc im Sonderforschungsbereich 422 an der Technischen Universität Dresden
1997Promotion in Physik an der Eberhard Karls Universität Tübingen bei Prof. Hannes Lichte
1994Dreimonatiger Gastaufenthalt am Oak Ridge National Lab, USA
1992-1996Wissenschaftlicher Mitarbeiter am Institut für Angewandte Physik der Eberhard Karls Universität Tübingen
1992Diplom-Abschluss des Physik-Studiums an der Eberhard Karls Universität Tübingen bei Prof. Hannes Lichte
1986-1992Studium der Physik an der Eberhard Karls Universität Tübingen
  
Weitere Tätigkeiten 
2019Konferenzleiter (zusammen mit Prof. Christoph Koch, HU Berlin) der Microscopy Conference MC2019
2016-2017Gewählter Präsident der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (DGE e.V.)
2015-2022Vorsitzender der Physik-Kommission an der Technischen Universität Berlin
2014-2015Gewählter Vizepräsident der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (DGE e.V.)
2009-2013 und 2019 - 2020Geschäftsführender Direktor des Instituts für Optik und Atomare Physik

Publikationen & Patente (Auswahl)

N. Owschimikow, B. Herzog, B. Lingnau, K. Lüdge, A. Lenz, H. Eisele, M. Dähne, T. Niermann, M. Lehmann, A. Schliwa, A. Strittmatter, U.W. Pohl
Submonolayer Quantum Dots
In: Kneissl M., Knorr A., Reitzenstein S., Hoffmann A. (eds) Semiconductor Nanophotonics. Springer Series in Solid-State Sciences, vol 194 (2020) pp 13-51
DOI: 10.1007/978-3-030-35656-9_2

U.W. Pohl, A. Strittmatter, A. Schliwa, M. Lehmann, T. Niermann, T. Heindel, S. Reitzenstein, M. Kantner, U. Bandelow, T. Koprucki, H.-J. Wünsche
Stressor-Induced Site Control of Quantum Dots for Single-Photon Sources
In: Kneissl M., Knorr A., Reitzenstein S., Hoffmann A. (eds) Semiconductor Nanophotonics. Springer Series in Solid-State Sciences, vol 194 (2020) pp 53-90
DOI: 10.1007/978-3-030-35656-9_3

Tolga Wagner, Michael Lehmann and Tore Niermann.
“ARRANGEMENT AND METHOD FOR DETECTING MEASURED VALUE ON BASIS OF ELECTRON HOLOGRAPHY.”,
Publication number: CN112534358A; EP3611574A1; EP3837587A1; WO2020035205A1 (2020).
Patent: worldwide.espacenet.com/publicationDetails/originalDocument?flavour=trueFull&locale=en_EP&FT=D&CC=EP&NR=3611574A1

L. Meißner, T. Niermann, D. Berger, M. Lehmann
Dynamical diffraction effects on the geometric phase of inhomogeneous strain fields
Ultramicroscopy 207 (2019) 112844
DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.112844

Tolga Wagner, Tore Niermann, Felix Urban, Michael Lehmann
Nanosecond electron holography by interference gating
Ultramicroscopy 206 (2019) 112824
DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.112824

Michael Lehmann, Tore Niermann and Tolga Wagner
“METHOD AND APPARATUS FOR CARRYING OUT A TIME-RESOLVED INTERFEROMETRIC MEASUREMENT.”
Publication number: EP3376522A1; TW201833521A; US2020103213A1; WO2018166786A1 (2018)
Patent (granted): patentimages.storage.googleapis.com/3f/99/6a/e600762da71959/US20200103213A1.pdf

T. Niermann, M. Lehmann, T. Wagner
Gated interference for time-resolved electron holography
Ultramicroscopy 182 (2017) 54–61
DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.06.017

Michael Lehmann and Hannes Lichte
Electron Holography
in: Transmission Electron Microscopy - Diffraction, Imaging, and Spectrometry
edited by C. Barry Carter and David B. Williams
Springer Verlag Berlin Heidelberg (2016), pages 215 - 232
DOI: 10.1007/978-3-319-26651-0
ISBN: 978-3-319-26649-7
Springer Verlag Berlin Heidelberg

Hannes Lichte and Michael Lehmann
Electron Waves, Interference & Coherence
in: Transmission Electron Microscopy - Diffraction, Imaging, and Spectrometry
edited by C. Barry Carter and David B. Williams
Springer Verlag Berlin Heidelberg (2016), pages 197 - 214
DOI: 10.1007/978-3-319-26651-0
ISBN: 978-3-319-26649-7
Springer Verlag Berlin Heidelberg

Tore Niermann and Michael Lehmann
Holographic focal series: differences between inline and off-axis electron holography at atomic resolution
J. Phys. D: Appl. Phys. 49 (2016) 194002
DOI: 10.1088/0022-3727/49/19/194002

Stephan Appelfeller, Martin Franz, Milan Kubicki, Paul Reiß, Tore Niermann, Markus Andreas Schubert, Michael Lehmann, and Mario Dähne
Capping of rare earth silicide nanowires on Si(001)
Applied Physics Letters 108 (2016) 013109 (4 pages)
DOI: 10.1063/1.4939693

F. Kießling, T. Niermann, M. Lehmann, J.-H. Schulze, A. Strittmatter, A. Schliwa, and U.W. Pohl
Strain field of a buried oxide aperture
Physical Review B 91 (2015) 075306
DOI: 10.1103/PhysRevB.91.075306

J. B. Park, T. Niermann, D. Berger, A. Knauer, I. Koslow, M. Weyers, M. Kneissl, and M. Lehmann
Impact of electron irradiation on electron holographic potentiometry
Applied Physics Letters 105 (2014) 094102
DOI: 10.1063/1.4894718

Florian Genz, Tore Niermann, Bart Buijsse, Bert Freitag, Michael Lehmann
Advanced double-biprism holography with atomic resolution
Ultramicroscopy 147 (2014) 33 - 43
DOI: 10.1016/j.ultramic.2014.06.002

T. Niermann, F. Kießling, M. Lehmann, J.-H. Schulze, T.D. Germann, K. Pötschke, A. Strittmatter, and U.W. Pohl
Atomic structure of closely stacked InAs submonolayer depositions in GaAs
Journal of Applied Physics 112 (2012) 083505
DOI: 10.1063/1.4758301

H. Lichte, M. Lehmann
Electron holography - basics and applications
Annu. Rev. Modern Physics 71 (2008) 016102
DOI: 10.1088/0034-4885/71/1/016102

M. Lehmann
Influence of the Elliptical Illumination on Acquisition and Correction of Coherent Aberrations in High-Resolution Electron Holography
Ultramicroscopy 100 (2004) 9 - 23
DOI: 10.1016/j.ultramic.2004.01.005

M. Lehmann, H. Lichte
Tutorial on Off-axis Electron Holography
Microscopy and Microanalysis 8 (2002) 447 - 466
DOI: 10.1017/S143192760202014

M. Lehmann, E. Völkl, F. Lenz
Reconstruction of electron off-axis holograms: a new and fast alternative method
Ultramicroscopy 54 (1994) 335 - 344
DOI: 10.1016/0304-3991(94)90133-3