Experimentalphysik/Elektronen- und Ionen-Nanooptik

JEOL JEM-ARM300F2 "GrandARM2" S/TEM

Dieses hochmoderne S/TEM-Instrument bietet eine außergewöhnliche Leistung hinsichtlich Ortsauflösung und Elementanalytik:

  • Erstes GrandARM2 außerhalb Japans
  • Kalte Feldemissionselektronenquelle
  • 60 kV, 80 kV, 200 kV und 300 kV Beschleunigungsspannung
  • JEOL ETA Probe Cs-Korrektor
  • Objektiv-Polschuhe mit großem Abstand
  • 63 pm STEM-DF-Auflösung @ 300 kV, 110 pm STEM-DF-Auflösung @ 80 kV
  • EDS-Deteckor with 2 x 158 mm2 und einem Sammelwinkel von 2.2 sr
  • SE/BSE-detektor
  • BF, ABF, DF und HAADF-Detektoren
  • Quantum Merlin pixelated Detektor mit 256 x 256 Pixel und einer max. Bildrate von 2400 Hz @ 6 bit
  • TVIPS TemCam XF416 CMOS-Kamera mit 4096 x 4096 Pixel
  • TVPIS Universal Scan Generator für beliebige Scanmuster
  • Probenhalter
    • Doppelkipphalter für EDX
    • Retainer-Halter für Probenaustausch mit Mikrosonde
    • Einfach-Kipphalter mit vier Slots für hohen Probendurchsatz
    • Doppelkipp Biasing-Halter für MEMS-Chips (Protochips Fusion Select; DFG-Beschaffung durch das Projekt von Dr. Laura Niermann)

Das Instrument wird von Mitgliedern der AG Lehmann und ZELMI gemeinsam betrieben.

Das GrandARM2 S/TEM-Instrument ist im Rahmen eines Großgeräteantrages beschafft worden. Für die Finazierung sind wir der Deutschen Forschungsgemeinschaft und der TU Berlin sehr dankbar!

Geräteverantwortliche/Kontakt

Einrichtung Institut für Optik und Atomare Physik
Gebäude ER
Raum ER 296
Einrichtung Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie (ZELMI)
Gebäude TEM
Raum TEM 001
Einrichtung Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie (ZELMI)
Gebäude KWT-A
Raum KWT-A 06

FEI Titan 80-300 Berlin Holography Special TEM

Dieses exzellente Hochleistungs-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) mit atomarer Auflösung ist von seiner Elektronenoptik speziell für die Elektronenholographie optimiert worden. Es bietet:

  • Erste Titan X-Linse weltweit speziell für Elektronenholographie
  • High-Brightness Schottky-Elektronenquelle
  • 80, 200 und 300 kV Beschleunigungsspannung
  • Bis zu drei Möllenstedt-Biprismen
  • Lorentz-Linse
  • Image Cs-Korrektor
  • Gatan US1000 CCD-Kamera
  • 75 pm Informationslimit bei 300 kV Beschleunigungsspannung

Das Titan TEM ist ein gemeinsames Projekt mit der Firma FEI gewesen und ist durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft und der TU Berlin im Rahmen eines Großgeräteantrages finanziell gefördert worden.

Geräteverantwortlicher/Kontakt

Einrichtung Institut für Optik und Atomare Physik
Gebäude ER
Raum ER 296

TEM-Probenpräparation

Oft schränkt nicht das Instrument, sondern die Qualität der TEM-Probe selbst die Leistung von elektronenmikroskopischen Experimenten ein. Daher ist ein spezielles Probenpräparationslabor mit ultimativen Präparationswerkzeugen und -methoden ebenso wichtig. Neben dem Präparationslabor der ZELMI im Gebäude KWT beherbergt das Elektronenmikroskopie-Gebäude ein spezielles Präparationslabor überwiegend für TEM-Proben. Es werden u.a. die folgenden Instrumente verwendet:

  • Gatan Dimpler
  • Gatan PIPS
  • Fishione Ion-Mill
  • Fishione Plasma-Cleaner

Laborverantwortliche/Kontakt

Einrichtung Institut für Optik und Atomare Physik
Gebäude TEM
Raum TEM 005

Instrumente der ZELMI

Die Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie (ZELMI) bietet ein ganz breites Portfolio an modernen elektronenmikroskopischen Untersuchungsmethoden an den unterschiedlichsten Instrumenten. Folglich gibt es hier einen regen Austausch.